How to fit models of recognition memory data using maximum likelihood

Abstract

The aim of this paper is to provide an introductory tutorial to how to fit different models of recognition memory using maximum likelihood estimation. It is in four main parts. The first part describes how recognition memory data is collected and analysed. The second part introduces four current models that will be fitted to the data. The third part describes in detail how a model is fit using maximum likelihood estimation. The fourth part examines how the fit of a model can be evaluated and the appropriate statistical test applied. = El propósito de este artículo es proveer un tutorial sobre cómo ajustar diferentes modelos de la memoria de reconocimiento usando estimación de máxima verosimilitud. El artículo presenta cuatro partes. Primero se describe cómo se analizan y obtienen datos en experimentos sobre la memoria de reconocimiento. En segundo lugar se presentan cuatro modelos recientes que serán ajustados a los datos. La tercera parte describe en detalle cómo se ajusta un modelo usando el procedimiento de estimación de máxima verosimilitud. Por último se examina cómo el modelo ajustado pueden ser evaluado y qué pruebas estadísticas pueden aplicarse para ello.